通常我們所指的探頭老化是指氧化鋯檢測器的老化，主要表現(xiàn)在內阻升高和本底電勢增大這兩項上：

　　(1)內阻升高

　　實際運用中，探頭老化引起的內阻增大較多。內阻是指信號線兩端間的輸入電阻，它是引線電阻、電極與氧化鋯間界面電阻及氧化鋯體積電阻三部分之和，因此，電極揮發(fā)、電極脫落和氧化鋯電解質的反穩(wěn)（由穩(wěn)定氧化鋯變?yōu)椴环€(wěn)定氧化鋯），都將引起內阻升高。測量檢測器內阻，可以判斷其老化情況。根據經驗，當內阻增大到接近其使用極限shi，將出現(xiàn)信號大跳動現(xiàn)象，有些反應為響應遲緩的現(xiàn)象。對于這些檢測器，其本底電勢不一定很大。

　　(2)本底電勢增大

　　本底電勢是電池附加電勢。引起本底電勢增大的因素有兩種：一種屬于永存因素，它寄生的電池上，如SO2和SO3的腐蝕作用、電池不對稱因素；另一種屬于暫存因素，如電極各灰、空氣對流差等因素，一旦條件改善，本底電勢便可降低。

　　本底電勢的變大，往往反映檢測器的老化程度，當E0值超過分析儀的最大調節(jié)量時，就說明檢測器已經損壞。

　　舉個例子：

　　一個氧化鋯，出廠時的E0為-5mV,其允許變化范圍為:-30mV，使用半年后，變?yōu)?13mV；使用18個月后變?yōu)椋?29mV；這種情況就表明，此檢測器已經老化，需要更換。

　　需要注意的是，有些檢測器的老化表現(xiàn)在本底電勢變大上，而有些檢測器雖然老化，但卻沒有這種現(xiàn)象，所以我們需要認真分析對待。當本底電勢變大的原因是由暫存因素引起時，隨著使用時間的推移，則有可能出現(xiàn)本底電勢先變大，再變小的現(xiàn)象。

　　由于本底電勢增大而導致探頭老化的數量比內阻增大數量要少，單純本底增大，一般不會出現(xiàn)信號跳動大的現(xiàn)象。

SINZEN-hz